變頻抗干擾介質(zhì)損耗測試儀（CVT）

概述

變頻抗干擾介質(zhì)損耗測試儀（CVT）是一種新型的智能化變頻介質(zhì)損耗測試儀。隨著城鄉(xiāng)電網(wǎng)改造的不斷深入，更高電站越來越多，倒相法、移相法，已不能滿足現(xiàn)場測試需求，異頻測量（變頻），把50HZ變成其它頻率，可以排除干擾。但由于電子技術(shù)的限制，其變頻后的頻率一般離50HZ有一定距離，其50Hz條件下的電容值cx及tgδ 值是換算模擬出來的，與真實工頻測試有一定的距離，尤其對少數(shù)被試品，測出數(shù)據(jù)就有明顯誤差，經(jīng)過綜合比較，現(xiàn)研制一種新型介質(zhì)損耗測試儀，其原理不改變頻率，能得到50HZ條件下電容值cx及tgδ值，提高測量可靠性和準(zhǔn)確性，wan全抑制電場干擾，滿足電場下的使用要求，該儀器體積最小，重量最輕，便于攜帶。有靈活的擴展性，通過接口與計算機連接，使用強大的軟件附件，對儀器升級，人性化設(shè)計，全自動操作本儀器適合500kv及以下電站有干擾現(xiàn)場的試驗。

工作原理：

在交流電壓作用下，電介質(zhì)要消耗部分電能，這部分電能將轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮墚a(chǎn)生損耗。這種能量損耗叫做電介質(zhì)的損耗。當(dāng)電介質(zhì)上施加交流電壓時，電介質(zhì)中的電壓和電流間成在相角差ψ，ψ的余角δ稱為介質(zhì)損耗角，δ的正切tgδ稱為介質(zhì)損耗角正切。tgδ值是用來衡量電介質(zhì)損耗的參數(shù)。
儀器測量線路包括一標(biāo)準(zhǔn)回路（Cn）和一被試回路(Cx)，如圖1所示。標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與測量線路組成，被試回路由被試品和測量線路組成。測量線路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉(zhuǎn)換器組成。
通過測量電路分別測得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位差，再由單片機運用數(shù)字化實時采集方法，通過矢量運算便可得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。儀器內(nèi)部已經(jīng)采用了抗干擾措施，保證在外電場干擾下準(zhǔn)確測量。

變頻抗干擾介質(zhì)損耗測試儀（CVT）

技術(shù)指標(biāo)

準(zhǔn)確度：

Cx:±（讀數(shù)×1%+1pF）

tgδ:±（讀數(shù)×1%+0.00040）

抗干擾指標(biāo)：變頻抗干擾，在200%干擾下仍能達到上述準(zhǔn)確度

電容量范圍：

內(nèi)施高壓：3pF～60000pF/10kV 60pF～1μF/0.5kV

外施高壓：3pF～1.5μF/10kV 60pF～30μF/0.5kV

分辨率： zui高0.001pF，4位有效數(shù)字

tgδ范圍： 不限，分辨率0.001%，電容、電感、電阻三種試品自動識別。

試驗電流范圍：10μA～5A

內(nèi)施高壓：設(shè)定電壓范圍：0.5～10kV

zui大輸出電流：200mA

升降壓方式：連續(xù)平滑調(diào)節(jié)

電壓精度：±(1.5%×讀數(shù)+10V)

電壓分辨率：1V

試驗頻率：45、50、55單頻

頻率精度：±0.01Hz

外施高壓：正接線時zui大試驗電流1A，工頻或變頻40-70Hz

反接線時zui大試驗電流10kV/1A，工頻或變頻40-70Hz

CVT自激法低壓輸出：輸出電壓3～50V，輸出電流3～30A

測量時間：約40s，與測量方式有關(guān)

輸入電源：180V～270VAC，50Hz/60Hz±1%，市電或發(fā)電機供電

計算機接口：標(biāo)準(zhǔn)RS232接口

打印機： 煒煌A7熱敏微型打印機

環(huán)境溫度：-10℃～50℃

相對濕度：<90%